隨著電子元器件可靠性水平的不斷提高，采用常規(guī)的正常應力下的長期壽命試驗實在太耗費人力、物力和時間了，有時甚至是不可能的。人們經(jīng)過長期的實踐，提出一種加速試驗的方法來解決這一矛盾。

所謂加速壽命試驗就是用加大應力的方法促使樣品在短時期內(nèi)失效,從而預測電子 產(chǎn)品在正常儲存條件或工作條件下的可靠性。例如將器件置于比較髙的熱、電等應力條 件下使之加速失效，并從中求出加速系數(shù)。這樣就可以在較短時間內(nèi)通過少量樣品的髙 應力試驗，推算出產(chǎn)品在正常應力下的可靠性水平,以供用戶設計時參考,或作為工藝對 比及合理制定工藝篩選條件和例行試驗規(guī)范的依據(jù)。同時，結合失效分析,還可以隨時了 解造成產(chǎn)品不可靠的主要因素(主要失效模式和失效機理），并迅速反饋到有關設計或制 造部門加以改進及糾正。因此，加速壽命試驗不僅節(jié)省了人力、物力和時間,并且結合失 效分析技術已發(fā)展成為控制、提髙半導體器件等電子元器件可靠性的一種行之有效的好 辦法，所以國內(nèi)外普遍采用。